모델 2520 펄스형 레이저 다이오드 테스트 시스템
구분 번호:2520
주요 특징 및 장점:
• 패키징 또는 능동적인 온도 제어 이전에 레이저 다이오드 LIV테스트의 간소화
• 레이저 디이오드의 칩 또는 바(bar) 상태에서의 공정 중LIV 생산 테스트를 위한 통합 솔루션
• 펄스형 및 DC 테스트를 위한 정밀한 소스 및 측정 능력을 결합
신모델 2520의 소스와 측정 기능의 긴밀한 동기 화는 500ns펄스 폭을 이용한 테스트에서조차 정밀한 측정 정확도를 보장하여 드립니다. 이 모델은 펄스형 LIV 테스트의 경우 최대 5A까지, 연속 LIV 테스트의 경우 최대 1A까지 가능 하며 이러한 기능에 의해 모델 2520은 광범위한 레이저 다이오드테스트에 적용될 수 있습니다. 메인프레임 및 원격 테스트 헤드 아키텍처는 펄 스형 측정의 정확도를 향상시킬 수 있습니다.
*영문으로 된 보다 완전한 제품 정보 - 검색창을 이용하여 모델 번호를 찾으십시오.
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주요 특징 및 장점:
• 패키징 또는 능동적인 온도 제어 이전에 레이저 다이오드 LIV테스트의 간소화
• 레이저 디이오드의 칩 또는 바(bar) 상태에서의 공정 중LIV 생산 테스트를 위한 통합 솔루션
• 펄스형 및 DC 테스트를 위한 정밀한 소스 및 측정 능력을 결합
신모델 2520의 소스와 측정 기능의 긴밀한 동기 화는 500ns펄스 폭을 이용한 테스트에서조차 정밀한 측정 정확도를 보장하여 드립니다. 이 모델은 펄스형 LIV 테스트의 경우 최대 5A까지, 연속 LIV 테스트의 경우 최대 1A까지 가능 하며 이러한 기능에 의해 모델 2520은 광범위한 레이저 다이오드테스트에 적용될 수 있습니다. 메인프레임 및 원격 테스트 헤드 아키텍처는 펄 스형 측정의 정확도를 향상시킬 수 있습니다.
*영문으로 된 보다 완전한 제품 정보 - 검색창을 이용하여 모델 번호를 찾으십시오.
최종 수정일: 2005-07-29

