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소스 미터 계측기 (SMU)

동적 신호 범위, 고속, 정밀도

키슬리는 20년 전부터 SMU 개발을 선도해왔습니다.
키슬리의 SMU 계측기와 시스템은 발전하는 고객의 테스트 요구 사항에 맞추어 7개의 제품군으로 진보해왔습니다.

2600B 시스템 소스미터 SMU 계측기

Model 2612A Dual-channel System SourceMeter Instrument (200V, 10A Pulse)
  • 10A~0.1fA 펄스와 200V~100nV I-V 기능을 갖춘 듀얼 또는 싱글 채널 모델 제품군
  • 최고 수준의 속도 및 가장 경제적인 가격을 위한 TSP(Test Script Processor) 기술
  • 브라우저 기반 GUI는 어느 장소에서든 PC에서 테스트을 가능케 합니다.
  • 오늘쪽의 제품은 모델 2604B입니다. 자세히 확인하시려면 사진을 클릭하여 주세요.

고전력 커브 트레이서 솔루션

파라메트릭 커브 트레이서 설정
  • 3 kV/100A 고전력 특성화
  • 풀 레인지 C-V 기능
  • 경제적인 가격 및 추후 확장성
  • 요구 사항 변경에 따른 테스트 시스템 재설정
  • 간편한 전력 기기 특성화를 위한 포괄적 소프트웨어
  • 복잡한 측정을 간단하게 만들어주는 사용자 조정 애플리케이션 테스트

2400 소스미터 SMU 계측기

Model 2401 Low Voltage SourceMeter Instrument
  • 1100V~100nV와 10.5A~1pA 펄스 I-V 기능을 갖춘 싱글 채널 모델 제품군
  • 개별 전원 공급기와 디지털 멀티미터(DMM)에 대한 스마트한 대안책
  • 편리한 DMM 형태의 사용자 인터페이스
  • 오른쪽의 제품은 모델 2401입니다. 자세히 확인하시려면 사진을 클릭하여 주세요.

4200-SCS 파라미터 분석기

4200-SCS 반도체 파라미터 분석기
  • 하나의 분석기에 I-V, C-V, 펄스 기능 통합
  • 사용자의 테스트 요구 사항을 충족시키고 변화하는 솔루션의 사항에 유연한 대처가 가능
  • 테스트 설정과 데이터 캡처/분석이 용이한 직관적인 소프트웨어
  • 과도신호 파형 캡처와 펄스 I-V에 동기화되는 초고속 I-V 모듈
  • 450개 이상의 사용자 조정 애플리케이션 테스트 프로그램으로 복잡한 측정을 간편하게 수행
  • 프로브 및 온도 제어 드라이버

S530 파라메트릭 테스트 시스템

Series S530 Parametric Test Systems
  • 경제적인 고속 반도체 파라메트릭 테스트
  • 다양한 기기와 제품 웨이퍼를 관리하는 생산/연구 환경에 맞게 설계
  • 높은 측정 정밀도와 반복성을 보장하는 입증된 SMU 계측기 기술

2650A 고전력 시스템 소스미터 SMU 계측기

Model 2657A High Power System SourceMeter Instrument with up to 180W of DC or pulsed power (+/-3000V@20mA, +/-1500V@120mA)
  • 최고 수준의 저전류 해상도로 최대 3kV 또는 50A 펄스 소스 및 측정
  • 최대 2,000W 펄스 또는 200V DC 전원
  • 고전력 반도체, 전자기기, 소재에 대한 특성화와 테스트에 최적화
  • 오늘쪽의 제품은 모델 2657A입니다. 자세히 확인하시려면 사진을 클릭하여 주세요.

S500 통합 테스트 시스템

S500 Integrated Test System
  • 다양한 설정과 확장이 가능한 SMU 계측기 기반 시스템
  • 장치, 웨이퍼, 카세트 레벨의 ACS(자동 특성 분석)를 통한 반도체 기기 테스트
  • 핀 당 SMU WLR(웨이퍼 레벨 신뢰성) 테스트, 고속 패러럴 테스트, 다이 분류, PCM(공정 관리 모니터링)에 이상적

전류/전압의 공급/측정 능력에 관해 폭넓은 범위의 측정 및 공급 장치(SMU)와 정밀 전원 파워 서플라이     전류/전압의 공급/측정 능력에 관해 폭넓은 범위의 측정 및 공급 장치(SMU)와 정밀 전원 파워 서플라이

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02-574-7778 (한국지사)