평판 디스플레이
오늘날의 고성능 LCD와 OLED를 기반으로한 디스플레이에서 반드시 요구되는 측정은 키슬리의 저전류, 고성능 소스와 측정 장비에 의해 가능합니다. 키슬리는 새로운 물질 개발과 양산의 최적화, 수율 향상, 새로운 디바이스의 안정성 향상을 위해 FPD 연구원과 제조업체를 위해 표준 또는 주문형 테스트 시스템을 제공하여 드립니다. 각각의 키슬리 시스템의 측정 성능은 액티브 또는 패시브 매트릭스 LCD, 비결정 또는 저온 폴리 실리콘 TFT, 폴리머, 소분자 PLED, OLED 또는 기타 신기술과 같은 특정 디스플레이 디바이스 기술에 따라 최적화 되어집니다.
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디바이스 특성
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비결정, LTPS, 박막 트랜지스터 - I-V, C-V 측정
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OLED 물질 연구 - 폭 넓은 동적 범위, 높은 테스팅 정확성, 빠른 측정
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저장용 소자의 커패시턴스 저장, FET 게이트 전하, 게이트 누설 전류, TFT 브레이크다운 전압
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기능 검사
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Documents
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LCD와 패시브 OLED 드라이버 IC 테스트 - 소스 V, 측정 I; 소스 I, 측정 V
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OLED 액티브 매트릭스 TFT와 픽셀 어레이 테스트 - LTPS 드라이버 IC IDDQ 전류 테스팅
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OLED 패시브 매트릭스 어레이 테스트 - 열/행 단락과 개방, ITO 저항율
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재료연구
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Documents
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유기물질 - 누설 전류, 역방향 브레이크다운 전압, 전하 특성
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반도체 - 비저항 측정
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반도체 - 신뢰성을 위한 스트레스 테스트
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실리콘 반도체 - 게이트 커패시턴스 (전하 축적)
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공정 모니터링 (TEG)
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Products
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Documents
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LTPS TFT/드라이버 검사의 마지막 공정 - 트랜지스터 (Vt), 다이오드, 커패시턴스, 저항, 게이트 딜레이
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ゲート/poly - MOSCAP GOI、ECD、Vt
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새로운 기술들 - 저온 폴리-실리콘 AM-LCD/OLED (TEG)
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신뢰성/수명/고온 테스트
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Documents
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가속화된 스트레스 테스트 (AST) - 소스 파워, 온도 모니터링, 다수의 DUT의 측정
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수명 - 온도와 습도 측정, 분산/원격 통신, 긴 수명
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품질 검증 테스트 (QAT)